RX-50MW Компьютеризированный металлографический микроскоп исследовательского класса

RX-50MW Компьютеризированный металлографический микроскоп исследовательского класса представляет собой тринокулярный прямой металлографический микроскоп. Он объединяет множество передовых функций, а его внешний вид и производительность соответствуют ведущим мировым тенденциям в дизайне, направленным на создание новых стандартов в промышленной сфере. Микроскоп предоставляет множество функций наблюдения, включая отраженное светлое поле, отраженное темное поле, проходящее светлое поле, проходяще-отраженное поляризованное освещение и отраженный дифференциальный интерференционный контраст.

Окуляр с высокой точкой выхода и сверхшироким плоским полем

Поле зрения окуляра для серии RX-50M было улучшено с традиционных 22 мм до 25 мм, обеспечивая более плоский диапазон наблюдения. Больший диапазон регулировки диоптрий позволяет удовлетворить потребности большего числа пользователей.

Профессиональный объектив с бесконечным рабочим расстоянием и полуапохроматической коррекцией

Объективы серии RX-50M используют линзы с высокой светопропускаемостью и передовую технологию покрытия для точного воспроизведения естественного цвета образцов. Одна линза позволяет реализовать наблюдение в светлом поле, темном поле, поляризованном свете и дифференциальном интерференционном контрасте. Полуапохроматический дизайн обеспечивает отличную коррекцию хроматических аберраций, улучшая контрастность и четкость наблюдаемых изображений.

Система дифференциального интерференционного контраста (DIC) Номарского

Новый модуль дифференциального интерференционного контраста U-DICR преобразует тонкие различия в высоте, которые невозможно обнаружить при наблюдении в светлом поле, в высококонтрастные свето-темные различия и представляет их в виде трехмерного рельефа, например, частицы проводящего материала LCD или царапины на поверхности прецизионных дисков.

Список конфигурации RX-50MW Компьютеризированного металлографического микроскопа исследовательского класса

Примечание: "." является стандартным; "O" — опциональным

Оригинальное программное обеспечение для анализа металлографических изображений FMIA2025

FMIA2025 Программное обеспечение для анализа металлографических изображений — это новая система анализа металлографических изображений, разработанная нашей компанией. Мы создали его, интегрировав потребности металлографических испытаний литейных предприятий, производителей автозапчастей, компаний по термообработке, подшипниковой стали, энергетической отрасли, железнодорожных компонентов и других соответствующих испытательных компаний. Для повышения качества продукции и улучшения возможностей тестирования лабораторий мы собрали требования и предложения экспертов различных отраслей и выпустили эту систему.

Версия FMIA2025 программного обеспечения для анализа металлографических изображений была полностью переработана и обновлена. Система охватывает большое количество отечественных и международных стандартов металлографических испытаний и объединяет функции количественного и качественного анализа. Добавлены новые функции, такие как синтез глубины резкости и сшивка полей изображения. С лаконичным интерфейсом система позволяет делать серийную съемку изображений с нескольких полей и централизованный анализ микроструктуры. Операции стали более удобными, исключая громоздкие шаги предыдущих версий программного обеспечения, что делает тестирование быстрее и эффективнее.

Мы создали новый набор инструментов для металлографического анализа "профессиональный-точный-эффективный", чтобы упростить металлографический анализ.

Национальная библиотека стандартов программной системы содержит сотни категорий, охватывая основные стандарты металлографии и удовлетворяя требованиям анализа и тестирования большинства организаций. Соответствующие категории могут быть открыты в зависимости от потребностей различных отраслей. Все модули доступны для бесплатного использования на всю жизнь, а обновления стандартов также предоставляются бесплатно.

Учитывая постоянное увеличение новых материалов и импортных марок, для материалов и стандартов оценки, которые еще не включены в программное обеспечение, может быть предоставлено индивидуальное добавление.

Преимущества продукта и описание функций программного обеспечения для анализа металлографических изображений FMIA2025：

● Пакетная съемка, сбор и архивирование видеоизображений: Предоставляет функции пакетной обработки изображений, такие как пакетная съемка, пакетное задание имен, пакетное сохранение и пакетная печать с фиксированным увеличением. Эти функции делают процесс проверки образцов более удобным и эффективным.

       ● Настройки камеры: Поддерживает регулировку таких функций, как время экспозиции, усиление, резкость, насыщенность, гамма-значение, контраст, яркость, баланс белого и баланс черного.

● Калибровка изображения: Функция калибровки полностью обновлена, позволяя выполнять калибровку параметров всех объективов одним нажатием. По сравнению с предыдущим методом калибровки, новый метод более удобен и быстр в использовании.

● Функции обработки изображений: Включает функции разделения цветов, преобразования в градации серого, порогового разделения, бинаризации, улучшения изображения, инвертирования, регулировки резкости, удаления царапин и пятен, а также гистограмму изображения.

        ● Функция печати с фиксированным увеличением: Поддерживает печать с фиксированным увеличением нескольких изображений, пользовательское именование изображений, настройку параметров масштаба, экспорт в форматы PDF/Word/Excel и предварительный просмотр перед печатью.

● Измерение и архивирование изображений: Доступны различные инструменты измерения (включая расстояние, угол, угол между двумя линиями, прямоугольник, расстояние от точки до линии, эллипс, многоугольник, расстояние между параллельными линиями, дуга по трем точкам, окружность по трем точкам и т. д.). Поддерживает рисование стрелок, добавление текстовых аннотаций, вставку вспомогательных линий и регулировку ширины линий. Доступны несколько единиц измерения длины; также можно настроить цвет, размер и стиль шрифта для данных измерений. Данные измерений могут быть сведены и экспортированы в виде таблицы Excel.

● Функция анализа микроструктуры: Библиотека программного обеспечения предлагает широкий спектр стандартных модулей обнаружения, охватывающих стандарты анализа микроструктуры, такие как GB/ASTM/ISO/DIN/QC/JB/DL/TB/SS. Номера стандартов в библиотеке могут быть обновлены, а новые стандарты доступны для бесплатного обновления. Предоставляет три функции металлографической оценки: автоматическую, сравнительную и вспомогательную. Функция проста в использовании, лаконична, эффективна и обеспечивает точные и надежные измерения.

● Продвинутые функциональные модули: Функция EDF (расширенная глубина резкости), функция сшивки изображений / функция мозаики изображений

● Продвинутые функции настройки: Пользовательская функция управления моторизованным столиком микроскопа, функция конфокального изображения, функция 3D-оптического картирования, функция базы данных изображений и т. д.

● Функция анализа микроструктуры с использованием ИИ: Доступны настраиваемые модули анализа микроструктуры с использованием искусственного интеллекта. Используя ИИ, система выполняет весь процесс анализа и обнаружения микроструктуры, обеспечивая автоматическое распознавание и анализ микроструктуры материалов. Процесс работы прост, что снижает трудоемкость персонала и повышает эффективность обнаружения материалов.

● Национальная библиотека стандартных изображений: Содержит сотни стандартных изображений для обучения и справки клиентов.

●Разнообразные шаблоны отчетов: Автоматически генерирует отчеты об анализе металлографической микроструктуры с изображениями и текстом. Пользователи могут выбрать создание отчетов с одним модулем или несколькими модулями. Шаблоны отчетов позволяют вносить изменения, такие как добавление логотипов компании, названий компании и процессов тестирования. Можно создавать пользовательские шаблоны отчетов в соответствии с конкретными потребностями.

Состав системы программного обеспечения для металлографического анализа версии FMIA2025:

1. Программное обеспечение FMIA2025 (USB-флеш-накопитель);

2.Ключ защиты: USB-тип + динамическая проверка кода;

3.Письменные материалы: Руководство пользователя (хранится на USB-флеш-накопителе);

4.Микрометрическая шкала: Цена деления 0.01 мм.

Чертеж размеров RX-50MW Компьютеризированного металлографического микроскопа исследовательского класса：